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1. 原理和仪器：图1 NLO-Z Z扫描仪NLO-Z 是本公司接纳现在使用广泛的丈量质料光学非线性的 Z 扫描技术，自主研发的新型光学非线性丈量仪。该仪器主要用于质料光学非线性吸收和非线性折射性质的丈量。通过丈量质料在光路中移动时开孔、闭孔能量的变化，同时丈量非线性折射和非线性吸收系数，并能确定非线性折射的符号。
仪器自动化水平高，实验数据的收罗、处置惩罚均由盘算机控制。该仪器与同类产物相比，具有噪声低，稳定性好，精度高等优点。2. 产物特点：（1）同时确定质料的非线性折射巨细和符号、非线性吸收系数；（2）丈量波段：可见光～近红外波段 (凭据用户所提供激光器的波长决议)；（3）丈量精度：非线性折射系数：>10-18(SI)，非线性吸收系数：>10-13(SI)；（4）可选激光:飞秒激光、皮秒激光，可选波长：532nm，800nm，1064nm；（5）自主研发的配套控制软件，可控制样品移动速度，可实现一连移动或按牢固步长移动，丈量敏捷度高。
适用于液体、固体样品的丈量；（6）自主研发的数据分析处置惩罚软件，界面友好，操作简朴。图2：测试效果3. 效果输出：（1）测试数据（2）陈诉4. 客户提供：（1）测试样品及测试项目；（2）激光类型+波长；（3）其他要求；（4）反馈数据的陈诉花样和模板；5.适用种别：（1）半导体薄膜质料。
（2）无机、有机透明半透明质料。
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